Basiskurs VDA-19.1: Restschmutzanalyse mittels SEM-EDX

Unter den zahlreichen Verfahren der erweiterten Partikelanalyse, die im VDA-Band 19.1 beschrieben sind, wird insbesondere die automatische Rasterelektronenmikroskopie mit Röntgenelementanalyse (SEM-EDX) für die Identifizierung von Restschmutzpartikeln eingesetzt. Vor allem für den Nachweis kleiner Schleifpartikel, welche aufgrund ihrer Abravisität eine hohes Schädigungspotential aufweisen, hat sich die Methode bestens bewährt.

Der ASPEX Explorer von FEI ist ein Instrument, das speziell auf die Partikelanalyse im Bereich der technischen Sauberkeit zugeschnitten ist. Das System ist in der Lage, eine große Anzahl von Materialklassen vollautomatisch für Partikel bis zu einer Größe von unter 1 µm in erstaunlicher Geschwindigkeit zu unterscheiden (siehe Abbildung). Sauberkeitslabore, die nicht in ein SEM-EDX investieren möchten, können ihren Analysenbedarf in unser akkreditiertes Prüflabor auslagern.

Materialtypisierung und Partikelgrößenhistogramm gemessen durch automatisches SEM-EDX
Materialtypisierung und Partikelgrößenhistogramm gemessen durch automatisches SEM-EDX

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